0.1mmの微細な欠陥も高精度でAI検査
<特長>
1. 微小な欠陥も簡単にAI検査
0.1mmの欠陥の検査も卓上で簡単に実現できます。電子基板や細かいデザインパターンがある製品の検査に最適です。
2. 過検出を抑えてしっかり検出
従来の画像処理手法では抑えることが難しかった過検出も、数十枚の良品をAIが学習することで最低限に抑えられます。画像処理手法と比べ、過検出を1/10以下に低減することに成功しました。
3. 自動位置補正
ステージに置かれた製品の位置ズレを自動で補正します。AIに検出させる前の位置回転ばらつきを減らすことで、安定的で高精度な検査を実現しています。
4. 領域ごとの検査基準
検査領域ごとに検査基準を設定できます。特定の領域を厳しく、緩くなど自在に設定可能です。
製品情報
製品分類 | その他画像関連機器 | ||
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カタログ | 有 | ||
カタログ名 | 検査装置「GE-03」紹介リーフレット | ||
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