テラヘルツ波による膜厚計測装置オプトウエア(株)

  • 製品分類システムインテグレーション
  • 画像
  • 画像
  • 画像

非接触・多層膜厚を一括計測

テラヘルツ波の物質透過性を用いた「パルスエコー」方式の多層膜厚計測装置です。測定対象は、樹脂、塗装膜、セラミックシート、ゴムなどで、光が透過しない物質の膜厚測定に最適です。また、多層膜(各層の屈折率が異なる)の各層厚みを一括で測定することができます。

製品情報

製品分類 システムインテグレーション
カタログ
カタログ名 革新的なテラヘルツ波による多層膜厚測定装置
カタログファイル PDFをダウンロード

企業情報

詳細を見る

オプトウエア(株) 

この製品にお問い合わせする

このページのトップへ