赤外カメラとの組み合わせで高倍率観察が可能に◎
・1200nmまで対応した光学倍率10倍のテレセントリックレンズ
・近赤外対応したカメラ・照明との組み合わせで、基板内部や裏面の微細パターンを高精細に撮影可能
・広い作業領域を確保できるW.D.64mm
用途
・半導体デバイス(シリコンウェハーやICチップ)の内部観察
・電気/電子部品(ソーラーパネルやLCDなど)の非破壊検査
・ウェハーやフリップボンダー用位置決め
製品情報
| 製品分類 | レンズ／フィルター | ||
|---|---|---|---|
| カタログ | 有 | ||
| カタログ名 | IR_leaflet | ||
| カタログファイル | PDFをダウンロード | ||